Dostawa aparatury badawczej - 2 części Część 1. Dyfraktometr rentgenowski (XRD) do analizy faz krystalicznych Część 2. Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej (XRF) z dyspersją fali
| Wytworzył: | Patrycja Miśków |
|---|---|
| Data wytworzenia: | 13-03-2023 |
| Opublikowane przez: | Patrycja Miśków |
| Data publikacji: | 13-03-2023 09:00 |
| Ostatnio zaktualizował: | Patrycja Miśków |
| Data ostatniej aktualizacji: | 13-03-2023 09:31 |
